SJ 20954-2006 集成电路锁定试验
作者:标准资料网
时间:2024-05-13 08:22:30
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基本信息
标准名称: | 集成电路锁定试验 |
英文名称: | Integrated circuits latch-up test |
中标分类: | 电子元器件与信息技术 >> 微电路 >> 微电路综合 |
ICS分类: | 电子学 >> 集成电路、微电子学 |
发布日期: | 2006-08-07 |
实施日期: | 2006-12-30 |
首发日期: | |
作废日期: | |
出版日期: | |
页数: | 15页 |
适用范围
本标准规定了集成电路的电流锁定和过压锁定的试验方法。
前言
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目录
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引用标准
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所属分类: 电子元器件与信息技术 微电路 微电路综合 电子学 集成电路 微电子学
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